富士電子式塑殼斷路器電子樣本，EA102C
清晰度或銳度是用來表示不同密度之間的界限和圖像中精細細節的清晰性的攝影術語。
近利用空間頻率特性進行攝影圖像的清晰度表達.
空間頻率的概念來源于電子測量系統。在電子方面。
技術--例如，揚聲器的特性，是通過繪制我們所說的頻率響應曲線來表達的。
輸入輸出的放大比(稱為響應)是計算的。每個不同的聲音頻率的ED，
頻率沿水平軸下線和沿垂直軸的響應。如圖16所示，頻率響應曲線可以這樣獲得。
如果低音音的再現性較差，則低頻范圍內的響應較小，
如果高音不忠實地再現，則在高f req中的響應頻率范圍較小。
當評估再現聲音的質量時，這種頻率響應曲線非常有用。
另一方面，在攝影中，頻率響應曲線由PL繪制。
根據輸入-輸出比，將每mm的黑白線的數量
（這稱為音頻頻率類推之后的空間頻率），
即再現的IM的響應以可見光或放射線為輸入的年齡。
該曲線在攝影中被稱為響應函數或調制傳遞函數。
顯影后產生的照相圖像由直徑幾微米的銀粒子組成，
其直徑不規則地分布。這就是為什么拉多圖通常
具有粒狀外觀的原因當被肉眼觀察時。這種外觀叫做顆粒度。
它是形成的銀顆粒的團塊，而不是產生粒狀外觀的單一晶粒。
顆粒度是主觀因素戊印象，而其客觀方面稱為粒度..
前者是由肉眼主觀決定的，使用恒定的樣品照明或恒定的場亮度。
測定方法是相對于薄膜的目的而選擇的，但恒定樣品照明方法適合于X射線薄膜。
另一方面是麥爾。性是物理的，是指光敏乳液的結構，
它是由物理方法客觀地決定的。粒度在重復性和客觀性上優于grai。
作為衡量銀礦分布變化的科學指標。利用Selwyn的傅里葉分析方法確定粒度。
Selwyn粒度G表示為測量孔徑的面積a的平方根的乘積和給定平均密度D的標準偏差σD的乘積。
：G=σD√a，但當單個銀顆粒的面積大于測量孔徑的面積a時，這個公式不會得到G的恒定值。
今天的粒度是單位D的值比Selwyn的常數更經常地表示，
并且被稱為RMS粒度(均方根粒度)。
RMS值越小，粒度越好...例如，在圖17中，電影A的粒度比電影B更好。
在測定時，必須遵守工業X光膠片的標準，并考慮幾何因素
(例如樣品到膠片之間的距離)對圖像質量的影響。
對X射線或伽馬輻射源、盒式磁帶、樣品和穿透儀的布置進行了分析.
也有必要根據實際情況，對曝光方法進行適當的選擇。
待檢查樣品的材料和形狀或部分。
例如，當檢查焊接管道時，應在單個射線照相中進行適當的選擇方法、
立體放射線照相方法和雙曝光(視差)方法。
在工業射線照相中，必須確定曝光，以滿足諸如基本圖像密度和透度計確定定義等要求。
X射線設備需要制造商規定的預熱期，如果是伽馬輻射源，
則需要確定其CI值。當使用X射線時，就會有一種無線電攝影術。
利用長曝光時間的低千伏電壓可獲得高清晰度的APH。
曝光圖通常被用作確定曝光條件的指南(例如，千伏，x-ra)。
Y管電流和曝光時間）。通過沿水平軸和曝光（mA·min）鋪設試樣厚度，
繪制普通曝光圖表。或MA·秒。)或千伏
((然而，建議沿著圖的縱軸繪制適當的曝光圖表，
根據每種情況的曝光條件繪制適當的曝光圖表，
因為曝光的結果會有所不同。X射線源的可變特性、聚焦膜距離、樣本材料和期望的圖像
密度。在圖18所示的情況下，由試樣的厚度確定千伏，
并在條件下進行曝光(Ma·min)。由千伏決定。
在c中ASE如圖19所示，增強屏是相對于試樣的厚度和適合所選屏幕類型的千伏曝光而選擇的。
當將X光膠卷從交錯紙夾上取下時，不應對交錯紙施加不必要的壓力，
否則會留下劃痕和靜電痕跡。在X射線膠片上。
在曝光前，當X射線膠片放在工作臺上時，也要把交織紙留在X射線膠片上，
因為它保護膠片不受污垢、鐵粉、水分、化學物質和OT的影響。
她的下流事。好的，均勻的屏幕和電影之間的接觸是非常重要的。
如果他們接觸不佳，圖像清晰度將受到不利影響。
特別當殼體具有柔性類型時，應小心地在屏幕和薄膜之間獲得良好的接觸。
當從真空盒取出薄膜時,用通過打開篩網并去除薄膜，以避免篩網和薄膜之間的摩擦。
通過暴露于X射線、伽馬射線或光而在X射線膠片上產生的圖像在處理之前是不可見的，
但是當浸入特殊處理溶液中時，可見圖像出現。
這個專業人士處理步驟稱為開發。
當獲得期望密度和對比度的圖像時，停止顯影。
然后將該薄膜浸入停止槽中,停止該動作,f開發商。
停止浴后，薄膜浸入固定槽中，固定槽溶解敏感銀鹽的不改變部分。
這樣處理的電影有一個長久的形象。
S曝光后制作長久圖像的TEP統稱為處理。
本節將討論手工處理，自動處理將在第四章后面討論。
攝影技術的發展對照相質量有著重要的影響。
為了取得佳效果，各種發展條件必須保持不變。
特別重要的因素w我在這里討論。
富士電子式塑殼斷路器電子樣本，EA102C
